晶片型穿透式電子顯微鏡用之薄膜相位板
晶片型穿透式電子顯微鏡用之薄膜相位板
本院覽號
02A-1010912
公告日期
智財權狀態
美國臨時案已申請、美國US 8791416 B2放棄維護、台灣(發明)I544513放棄維護
摘要
使用本發明之晶片式薄膜相位板，可很容易搭配各式市售穿透式電子顯微鏡，取得過去無法取得之對比明顯之奈米顯微正焦影像。此發明大幅改善過去以相位板取得之電子顯微影像不穩定的問題，且製作成本低廉。
技術優勢
過去所有的薄膜相位板都是做於金屬薄片或金屬環上，本發明之相位板薄膜直接做在晶片上。本發明的好處有: 晶片可有效降低電荷累積所造成的影像扭曲效應 可量產，成本低廉 晶片與薄膜會自動貼合，不需要特殊的薄膜接合方式 容易定位
應用範圍
穿透式電子顯微鏡使應用： 有機元件發展，如有機太陽能電池及有機二極體 OLED 有機奈米粒子顯像，如奈米製藥之發展 各式生物樣品顯像 低溫生物樣品顯像 其他輕元素材料發展
創作人
薛韻馨、郭白嘉、陳志挺、王玉麟、謝詠芬
檔案下載
晶片型穿透式電子顯微鏡用之薄膜相位板
