跳到主要內容區塊

中央研究院智財技轉處對外服務網

智財技轉對外服務網logo 智財技轉對外服務網logo
  • :::
  • 網站導覽
  • 中央研究院
  • English
  • 網站導覽
  • 中央研究院
  • 最新消息
    • 本處消息
  • 資訊公開
    • 資訊公告
    • 法規輯要
    • 技術推廣刊物
    • 統計資訊
    • 智財小常識
    • 徵才資訊
  • 創作人
    • 智財技轉業務申辦暨查詢(僅限本院網域或VPN連線使用)
    • 研發成果智財保護
    • 與院外廠商進行共同研發
    • 研發成果技術移轉
    • 已專屬授權技術清單查詢
    • 制式文件
  • 廠商
    • 廠商需求與諮詢
    • 材料移轉申請
    • 探索技術(多元搜尋)
    • 熱搜技術
    • 技術授權或共同研發
    • 制式契約
  • 關於本處
    • 本處處長
    • 智財處介紹及業務窗口
    • 研管會介紹
  • 事務所專區
    • 登入
EN
相關技術(依語言模型分析所得之相關性)
  • 02A-990422

    運用高分子連接效應製備大面積單層奈米球三角最密堆疊晶體
  • 26T-1091006

    用於頻率域螢光生命週期顯微術 (FD-FLIM) 相機之控制、影像擷取及分析軟體
  • 26A-970930

    使用空間光調變器的超解析率廣視野光切片顯微術
  • 26A-1030605

    一種製作鋰硫碳鋰電池電極的方法
  • 02A-1000208

    摩擦驅動致動器
  • 05T-1100423

    特定聲響觸發的事件偵測方法
  • 26A-1010613

    利用空間限制之化學反應控制微流體細胞培養元件之氧氣濃度
  • 02A-960706

    利用先進設備及方式觀察物體之即時影像
  • 02A-1030325

    即時生物感測器之方法與設備
  • 26A-980908

    使用結構式照明的超解析率光學測繪術
分享至
share to facebook share to line share to email print
穿透式輻射成像之方法、系統及光源

穿透式輻射成像之方法、系統及光源
本院覽號

02A-1020930

公告日期

智財權狀態

美國US 9,799,479 B2放棄維護、台灣(發明)I546057放棄維護

摘要

本發明之新型X光產生裝置配合新發明之影像處理系統,可於傳統之X光成像裝置上,得到相對比之影像強化效果。此X光產生系統只需使用微奈米製造之特殊靶材,可使用現有之高電壓電子束生成裝置得到高輝度之X光,可有效解決相對比X光影像亮度及取像時間緩慢之瓶頸,使相對比成像之優越軟租織成像能力,可以進入醫療臨床應用。

技術優勢

X光相對比成像利用物質對X光折射率之不同,可在吸收成像外,增加額外之影像對比成像。對軟組織或是軟物質,有極佳之成像效果。

應用範圍

所有X光醫療成像包括: 胸腔X光攝影、乳房攝影、斷層掃描攝影、心血管造影等 工業用非破壞性檢測

創作人

胡宇光、李宗澤、荊宇泰

Sinica Logo

檔案下載

PDF-ICON穿透式輻射成像之方法、系統及光源
::: 中央研究院 logo
  • 地址/Address

    11529 台北市南港區研究院路二段 128 號

  • 電話/Phone

    +886-2-2787-2554

  • Email

    ip@gate.sinica.edu.tw

最新消息
  • 本處消息
資訊公開
  • 資訊公告
  • 法規輯要
  • 技術推廣刊物
  • 統計資訊
  • 智財小常識
  • 徵才資訊
創作人
  • 智財技轉業務申辦暨查詢(僅限本院網域或VPN連線使用)
  • 研發成果智財保護
  • 與院外廠商進行共同研發
  • 研發成果技術移轉
  • 已專屬授權技術清單查詢
  • 制式文件
廠商
  • 廠商需求與諮詢
  • 材料移轉申請
  • 探索技術(多元搜尋)
  • 熱搜技術
  • 技術授權或共同研發
  • 制式契約
關於本處
  • 本處處長
  • 智財處介紹及業務窗口
  • 研管會介紹
  • © 2022 中央研究院智財技轉處 版權所有 通過AA無障礙網頁檢測