銅電鍍於石墨烯表面製程發明
銅電鍍於石墨烯表面製程發明
本院覽號
02A-1030320
公告日期
智財權狀態
台灣(發明)I618188放棄維護
摘要
石墨烯除了當晶種層亦可作為擴散阻擋層(diffusion barrier)。其特性比常見的銅晶種層有較長的停滯時間,將可避免表面氧化生成。應用於金屬連線(interconnect)將可降低整體導線電阻與提高可靠度。將石墨烯作為阻障層/晶種層用於現今雙鑲嵌製程中,則形成的conformal 銅電鍍。若將石墨烯作為cap layer,可成為由下而上的銅電鍍。上述兩者皆可與銅電鍍結合用於現今雙鑲嵌後段金屬製程或是3D IC 的Through Silicon Via(TSV)中。
技術優勢
由於半導體製程元件尺寸愈做愈小,金屬連線需克服金屬於溝槽中阻障層與晶種層,因厚度不易減薄而影響整體導線阻值的問題。
應用範圍
3D IC Chip TSV interconnect
創作人
陳啟東、蘇雅雯、吳憲昌、劉智華
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