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利用特殊製作之制具，直接將非傳統前處理之樣品送入電子顯微鏡中，以穿透電子顯微術，搭配高角度等分析技術，可用來觀測及分析平常無法觀測之非傳統穿透電子顯微樣品，例如晶片薄膜或原子力顯微鏡用之針尖分析等等。